簡(jiǎn)要描述:多功能超聲粒度儀,美國MAS(Mass Applied Sciences)公司成立至今有30余年歷史,是一家專注于多功能超聲粒儀的研發(fā)和生產(chǎn)型企業(yè)。 可測(cè)量參數(shù):粒度分布、固含量、Zeta電位、等電點(diǎn)IEP、E5A、電導(dǎo)率、PH、溫度、聲衰減;
產(chǎn)品分類
Product Category詳細(xì)介紹
品牌 | 其他品牌 | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
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產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 醫(yī)療衛(wèi)生,化工,石油,制藥 |
多功能超聲粒度儀
美國MAS(Mass Applied Sciences)公司成立至今有30余年歷史,是一家專注于超聲電聲法原理粒度及Zeta電位分析儀的研發(fā)和生產(chǎn)型企業(yè)。 公司研發(fā)的納米粒度及Zeta電位儀系列產(chǎn)品,解決了目前市面上光學(xué)方法無法克服的納米粒度檢測(cè)難題,如光學(xué)方法必須要對(duì)樣品進(jìn)行稀釋 后測(cè)試其粒徑和zeta電位以及對(duì)于復(fù)雜體系無法給出真實(shí)的粒度分布等 。目前,美國MNS公司納米粒度及Zeta電位分析儀系列主要由 ZETA-APS,APS-100,ZetaFinder ZF400,ZetaAcoustic ZA500,CHDF-3000/4000組成,可以為各行業(yè)提供專業(yè)的粒度和Zeta電位解決方案。 超聲法系列粒度儀測(cè)試樣品的原理是采用聲波發(fā)生器發(fā)出一定頻率和強(qiáng)度的超聲波,由于不同粒徑大小的顆粒對(duì)聲波的吸收、散射作用不同, 導(dǎo)致聲波衰減程度不同。從而通過顆粒的聲衰減譜得到顆粒詳細(xì)準(zhǔn)確的粒度分布。
主要特點(diǎn):
1)能分析多種分散物的混合體;
2)無需依賴Double Layer模式,準(zhǔn)確地判定等電點(diǎn);
3)可適用于高導(dǎo)電(highly conducting)體系;
4)可排除雜質(zhì)及對(duì)樣品污染的干擾;
5)可準(zhǔn)確測(cè)量無水體系;
6)Zeta電位測(cè)試采用多頻電聲測(cè)量技術(shù),無需先測(cè)量粒度即可進(jìn)行電位測(cè)量;
7)樣品的高濃度可達(dá)60%(體積比),被測(cè)樣品無需稀釋,對(duì)濃縮膠體和乳膠可進(jìn)行直接測(cè)量;
8)具有自動(dòng)電位滴定功能;
多功能超聲粒度儀
優(yōu)于光學(xué)方法的技術(shù)優(yōu)勢(shì):
1)被測(cè)樣品無需稀釋;
2)排除雜質(zhì)及對(duì)樣品污染的干擾;
3)不需定標(biāo);
4)能分析多種分散物的混合體;
5)高精度;
6)所檢側(cè)粒徑范圍款從5 nm至1000um
超聲法原理粒度電聲法Zeta電位分析儀
優(yōu)于electroactics方法的技術(shù)優(yōu)勢(shì):
1)無需定標(biāo);
2)能測(cè)更寬的粒徑范圍;
3)無需依賴Double Layer模式
4)無需依賴( electric surface properties)電表面特牲;
5)零表面電荷條件下也可測(cè)量粒徑;
6)可適用于無水體系;
7)可適用于高導(dǎo)電(highly conducting)體系;
優(yōu)于微電泳方法的技術(shù)優(yōu)勢(shì):
1)無需稀釋,固合量高達(dá)60%;
2)可排除雜質(zhì)及對(duì)樣品污染的干擾;
3)高精度(±0.1mv);
4)低表面電荷(可低至0. 1mv);
5)electrosmotic flow不影響測(cè)量;
6)對(duì)流(convection)不影響測(cè)量;
7)可準(zhǔn)確測(cè)量無水體系;
技術(shù)參數(shù):
1)所檢測(cè)粒徑范圍寬:從5 nm至1000um;
2)可測(cè)量參數(shù):粒度分布、固含量、Zeta電位、等電點(diǎn)IEP、E5A、電導(dǎo)率、PH、溫度、聲衰減;
3)Zeta電位測(cè)量范圍:+/-500 mv,低表面電荷(可低至0. 1mv),高精度(±0.1mv);
4)零表面電荷條件下也可測(cè)量粒徑;
5)允許樣品濃度:0.1-60%(體積百分?jǐn)?shù));
6)樣品體積:30-230ml;
7)PH范圍:0~14;
8)電導(dǎo)率范圍:0~10 s/m
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