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  • AREPA型原液zeta電位分析儀
    AREPA型原液zeta電位分析儀

    更新時(shí)間：2020-11-25

    型號：AREPA型

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    AREPA原液在線納米粒度儀$n在線粒度測量，工業(yè)加工狀態(tài)，不必稀釋樣品經(jīng)硬件設(shè)計(jì)可全（24 hours/7 days） 候運(yùn)作，無需移動部件實(shí)時(shí)控制的快速測量
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  • CHDF4000型高分辨率納米粒度儀
    CHDF4000型高分辨率納米粒度儀

    更新時(shí)間：2020-03-19

    型號：CHDF4000型

    瀏覽量：3756

    高分辨率納米粒度儀 CHDF4000是基于光散原理的儀器，使用新的技術(shù)對高分辨率的粒度分布（PSD）進(jìn)行測量，包括高粒子檢測靈敏度、動態(tài)范圍、納米粒子的優(yōu)化分析；
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  • CHDF4000型CHDF4000納米粒度儀及成分分析儀
    CHDF4000型CHDF4000納米粒度儀及成分分析儀

    更新時(shí)間：2020-03-26

    型號：CHDF4000型

    瀏覽量：2272

    CHDF4000納米粒度儀及成分分析儀 CHDF4000是基于光散原理的儀器，使用新的技術(shù)對高分辨率的粒度分布（PSD）進(jìn)行測量，包括高粒子檢測靈敏度、動態(tài)范圍、納米粒子的優(yōu)化分析； CHDF4000可提供完整范圍5納米至NM3微米，真實(shí)的PSD數(shù)據(jù)； 通過粒子分離真正的PSD數(shù)據(jù)，關(guān)于粒子大小分布的形狀不需要假設(shè)； 自動化操作，通過一個(gè)人性化界面即可完成全部操作
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  • APS100納米粒度儀
    APS100納米粒度儀

    更新時(shí)間：2020-11-25

    型號：

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    APS100納米粒度儀$n美國MAS公司成立至今有30余年歷史，專注于超聲電聲法原理顆粒度檢測、 Zeta電位分析儀的研發(fā)生產(chǎn)。超聲法原理測試樣品的顆粒分布，是采用聲波發(fā)生器發(fā)出一定頻率和強(qiáng)度的超聲波在樣品中傳播，由于不同大小粒徑對聲波的吸收、散射作用不同，導(dǎo)致聲波衰減程度不同。根據(jù)顆粒大小和聲波衰減之間的函數(shù)關(guān)系，得到顆粒的粒度分布。
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  • AREPA 在線檢測AREPA 在線檢測納米分析儀
    AREPA 在線檢測AREPA 在線檢測納米分析儀

    更新時(shí)間：2020-04-08

    型號：AREPA 在線檢測

    瀏覽量：2215

    AREPA 在線檢測納米分析儀 這款新型的聲波傳感器粒徑測量可用在許多工業(yè)生產(chǎn); 如加工管道、化學(xué)反應(yīng)器、瓷磚印刷設(shè)備、半導(dǎo)體 CMP 拋光、石油生產(chǎn)/加工、藥品輸送系統(tǒng)等，同時(shí)具有顯著的經(jīng)濟(jì)效益。
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  • MAS-APS-100超聲電聲法高濃度納米粒度及電位分析儀
    MAS-APS-100超聲電聲法高濃度納米粒度及電位分析儀

    更新時(shí)間：2023-05-05

    型號：MAS-APS-100

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    胤煌-超聲電聲法高濃度納米粒度及電位分析儀 可測量水溶液、非水溶液分散系，分散系濃度范圍從0.1% ~60%。非常輕松就可測量1nm到50um的樣品顆粒；
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  • CHDF-4000胤煌-納米粒度儀-高分辨率檢測
    CHDF-4000胤煌-納米粒度儀-高分辨率檢測

    更新時(shí)間：2023-03-24

    型號：CHDF-4000

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    胤煌-納米粒度儀-高分辨率檢測具有出 色 的 分 離 技 術(shù)， 使 得 顆 粒 能 夠 自 小 到 大 排 列 進(jìn) 入 檢 測 器 , 從 而 達(dá) 到 對 不 同 顆 粒 進(jìn)行 “ 計(jì) 數(shù) “ 的 目 的， 超 高 的 尺 寸 分 分 辨 率 有 助 于 操 作 者 更 加 敏 銳 的 發(fā) 現(xiàn) 細(xì) 微 粒 度 分布 的 變 化 。
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  • zeta-APS原液超聲電聲法粒度及Zeta電位分析儀
    zeta-APS原液超聲電聲法粒度及Zeta電位分析儀

    更新時(shí)間：2023-03-17

    型號：zeta-APS

    瀏覽量：1516

    原液超聲電聲法粒度及Zeta電位分析儀 1)測量樣品不需要稀釋或樣品準(zhǔn)備，從而消除了操作失誤和數(shù)據(jù)的不確定性，同時(shí)節(jié)省了時(shí)間； 2)物有所值的諧振硬件設(shè)計(jì)； 3)寬粒徑測量范圍：從5nm到1000um； 4)自動電位和容積測量用于簡單快速的等電位（IEP）測定、表面活性劑的吸附效果和許多其他動態(tài)測定； 5)由于機(jī)載樣品混合和/或測量時(shí)的泵送能力，沒有粒子沉降的不利影響； 6)Zet
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